세계 최고의 오실로스코프 제조회사인 텍트로닉스는 오늘 업계 최초로 MIPI® M-PHY® 3.1 사양 및 CTS(적합성 테스트 제품군) 3.1을 위한 완전 자동화된 물리 계층 트랜스미터 솔루션을 발표했다. 

이 솔루션은 M-PHY 의 HS 모드 Gear1, 2 및3, PWM 모드(G0-G7) 및 SYS 모드를 지원하며 텍트로닉스 DPO70000SX 또는 MSO/DPO70000DX 오실로스코프 및 P7600 시리즈 프로브와 함께 사용했을 때 M-PHY 측정을 위한 업계 최저 노이즈 솔루션을 제공한다. 

모바일 산업은 SSIC 등과 같은 인터페이스에서는 칩 간의 빠른 통신이 필요하고 UFS/MIPI UniProSM와 같은 인터페이스에서는 스토리지 장치에 대한 고속 액세스가 필요한, 작고 빠른 장치로 발전해 가고 있다. 이에 따라 더욱 빠른 데이터 전송 속도, 더욱 빠른 처리 속도, 현대적인 설계 구현에 대한 필요성 및 정교한 테스트와 측정 도구에 대한 필요성이 증가하고 있다. 

현재 텍트로닉스에서 MIPI M-PHY 3.1을 위해 제공 중인 솔루션과 같이 자동화된 직렬 테스트 솔루션을 사용하면 엔지니어들은 일관성을 개선하면서 굉장히 적은 시간으로 전체 테스트 세트를 완료할 수 있다. 자동화된 솔루션은 설계자들이 사용자 정의 모드뿐만 아니라 적합성 모드에서도 테스트를 수행하도록 허용하며 장치의 첨단 분석, 디버깅 및 특성화도 지원한다. 

텍트로닉스 고성능 오실로스코프 담당 총책임자인 브라이언 라익(Brian Reich)는 “작년에 우리는 고객에게 높은 성능과 향상된 효율성을 지닌 첨단 모바일 장치를 설계하는 데 필요한 도구를 제공하는 M-PHY 3.1에 대한 포괄적인 테스트 지원을 발표했다” 면서, “이제 우리는 고객에게 완전 자동화의 장점을 제공함으로써 짧은 시간 내에 훨씬 성능이 뛰어난 제품을 시장에 내놓을 수 있도록 지원하면서 테스트 솔루션을 다음 단계로 발전시키는 중이다”고 말했다.